按鍵壽命測試儀 

一、簡介：LC-BT系列按鍵壽命測試儀可對手機、MP3、電腦、電子詞典按鍵、搖控器按鍵、硅橡膠按鍵、硅膠制品等做壽命測試，適用于檢測按鍵開關、輕觸開關、薄膜開關等各類按鍵進行壽命試驗。具有速度可調，次數任意設定，同時可測試數個產品（每個產品均可多點測試）。另每個按鍵可以設定不同壓力及不同高度。同時采用每個測試頭分開控制,專用夾具設計，人性化操作,可滿足客戶不同測試需求。

二、工作原理：按鍵壽命試驗機運用馬達傳動偏心輪使連桿來回上下移動，從而來打擊按鍵；結果設定好計數器的測試次數，從而來判定硅膠按鍵的好壞。

三、用途：按鍵壽命試驗機適用于手機、電話機、車載器、PDA、藍牙/免提耳機、汽車遙控器、電視/電腦控制器、MP3/CD等小型消費電子產品按鍵作壽命測試。

四、特點：

1、排序/同時打擊測試兩種模式可切換，可真實模擬手機鍵盤真實使用狀況；

2、采用電機元件，打擊力精準可調，耐久使用；

3、采用三菱液晶觸摸屏+PLC作程序控制，品質可靠；

4、可同時測試單組或多組手機，不同治具上下、左右、前后可調滿足不同規格之產品實物按鍵測試；

5、滿足手機正面、側面按鍵同時測試要求，配以校力裝置，真實反映按鍵耐打擊能力；

按鍵壽命測試儀技術參數

五、主要技術參數：

1、規格型號：HE-AJ-2

2、測試工位：2個工位（可根據要求訂做）

3、測試速度：0～60次/分鐘可調可設定

4、測試行程：0～50mm可調

5、測試次數：0～99999999次（八位計數器、次數可設定）

6、動作方式：電動

7、測試荷重：0～500g（砝碼一套）

8、測試夾具：根據貴公司提供樣品三套、靈活可調

9、電源：AC220V/50Hz